雙光束紫外可見分光光度計（UV762）

雙光束紫外可見分光光度計（UV762）是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計。采用了全新的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和準確度高；光譜數據處理功能強；采用中文人機對話、操作方便；儀器外形美觀大方。

廣泛用于藥品檢驗、醫藥衛生、生物化學、環境監測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域，是質量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。

功能特點：

•關鍵元件采用進口元件，全新*的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光準確度和穩定可靠性高。

•真正的雙光束測光系統，配合良好的電路測控系統，使儀器具有較高的可靠性和及低的噪聲。

•*的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找更佳位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確．

•采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．

•優良的軟件設計和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜,  多波長( 1-3λ) 測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。

•基于Windows 平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用。

性能指標：

•波長范圍：190nm～1100nm

•光譜帶寬：2nm

•波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)

•波長重復性：≤0.2nm

•透射比準確度：±0.3%(T)

•透射比重復性：0.1%(T)

•透射比測量范圍：0～200%T

•吸光度測量范圍：-0.301～3.000A

•雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)

•漂移：≤0.002A/H （500nm處）

•噪聲：上線噪聲≤0.15%T；下線噪聲≤0.1%T

•掃描速度：快 中 慢